單分子檢測共聚焦系統(tǒng)平臺徠卡專業(yè)顯微鏡

簡要描述：單分子檢測(SMD)及其分析是一個考察細(xì)胞系統(tǒng)內(nèi)動力學(xué)變化以及物質(zhì)相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測系列產(chǎn)品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個系統(tǒng)中.

產(chǎn)品型號： TSC 徠卡

所屬分類：顯微鏡大全

更新時間：2024-03-19

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細(xì)說明：

共聚焦顯微鏡

單分子檢測（SMD）及其分析是一個考察細(xì)胞系統(tǒng)內(nèi)動力學(xué)變化以及物質(zhì)相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測系列產(chǎn)品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個系統(tǒng)中.

這個技術(shù)成熟的配套是由一個針對種類繁多的時間解析技術(shù)，如FCS, FCCS, FLIM 以及上述中的組合如FLCS的靈活平臺組成。整體化的控制及其精妙的接口，為眾多的，為建立模型提供定量參數(shù)的生物物理技術(shù)打開了一扇大門。

為您帶來的優(yōu)勢


由一個整合的系統(tǒng)控制全部的實驗通過系統(tǒng)各個部分的整合，用戶可以通過一個界面控制全部的實驗。專門的應(yīng)用向?qū)Э焖俸头奖愕靥峁┛芍貜?fù)的實驗結(jié)果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量的嚴(yán)密控制。	即時的光譜和壽命信息－結(jié)合了更強(qiáng)大的能力結(jié)合SP8X與光譜FLIM檢測，構(gòu)成了可調(diào)節(jié)的，無光學(xué)濾片的FLIM系統(tǒng)。通過可調(diào)節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測，可以得到zui高質(zhì)量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向?qū)В梢宰詣荧@得FLIM激發(fā)和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。
快速的結(jié)果－更好的數(shù)據(jù)可靠性在線顯示重要的統(tǒng)計控制參數(shù)，如相關(guān)曲線、快速FLIM圖像、計數(shù)率、分子亮度或zui大分子計數(shù)數(shù)量，能在運(yùn)行FCS或FLIM實驗過程中，連續(xù)評估數(shù)據(jù)質(zhì)量。SMD數(shù)據(jù)可以在測量系列過程中就得到解釋。	在SMD檢測中具有zui大靈活性由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實驗設(shè)計，相關(guān)和壽命信息可以從一個單獨(dú)的測量中提取出來，得到有關(guān)樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達(dá)到zui大靈活的的FLCS配置。

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：M205C徠卡體視顯微鏡M205C成像軟件測定

下一篇：CARS成套的共聚焦顯微鏡 Leica TCS SP8 CARS系統(tǒng)測量軟件


由一個整合的系統(tǒng)控制全部的實驗通過系統(tǒng)各個部分的整合，用戶可以通過一個界面控制全部的實驗。專門的應(yīng)用向?qū)Э焖俸头奖愕靥峁┛芍貜?fù)的實驗結(jié)果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量的嚴(yán)密控制。	即時的光譜和壽命信息－結(jié)合了更強(qiáng)大的能力結(jié)合SP8X與光譜FLIM檢測，構(gòu)成了可調(diào)節(jié)的，無光學(xué)濾片的FLIM系統(tǒng)。通過可調(diào)節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測，可以得到zui高質(zhì)量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向?qū)В梢宰詣荧@得FLIM激發(fā)和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。
快速的結(jié)果－更好的數(shù)據(jù)可靠性在線顯示重要的統(tǒng)計控制參數(shù)，如相關(guān)曲線、快速FLIM圖像、計數(shù)率、分子亮度或zui大分子計數(shù)數(shù)量，能在運(yùn)行FCS或FLIM實驗過程中，連續(xù)評估數(shù)據(jù)質(zhì)量。SMD數(shù)據(jù)可以在測量系列過程中就得到解釋。	在SMD檢測中具有zui大靈活性由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實驗設(shè)計，相關(guān)和壽命信息可以從一個單獨(dú)的測量中提取出來，得到有關(guān)樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達(dá)到zui大靈活的的FLCS配置。

單分子檢測共聚焦系統(tǒng)平臺徠卡專業(yè)顯微鏡

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗證碼：